關(guān)鍵詞：

厚度儀測(cè)量?jī)x   厚度測(cè)量?jī)x   覆層測(cè)厚儀   便攜式測(cè)量?jī)x   測(cè)厚儀   多用途的測(cè)厚儀

產(chǎn)品用途：便攜式覆層測(cè)厚儀

本儀器是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂層、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。

本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)必-備的儀器

磁性涂層測(cè)厚儀：測(cè)量永-久磁鐵（側(cè)頭）和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化；或者是測(cè)量通過(guò)覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化?？梢詿o(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基本體上非磁性覆蓋層的厚度（如 鋼、鐵、合金和硬磁性鋼 上的 鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆 等）

渦流涂層測(cè)厚儀：利用側(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻磁場(chǎng)，使置于側(cè)頭下面的導(dǎo)體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導(dǎo)體與側(cè)頭之間的非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)?？蔁o(wú)損測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如 銅、鋁、鋅、錫 等金屬上的 油漆、橡膠、塑料、氧化膜 等）參照標(biāo)準(zhǔn)：

●GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法

●GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法

●JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

●JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》

●JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

儀器特點(diǎn)：便攜式覆層測(cè)厚儀

▲ 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

▲顯示信息：2.8寸TFT顯示屏，240*320像素

▲電池類(lèi)型：鋰電池3.7V 2600mAh充電電池

▲操作環(huán)境：溫度：10~30℃；  相對(duì)濕度：≤75%RH ；  無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境；

▲儀器尺寸（高x寬x長(zhǎng)）：203 x 92 x 52(mm)

▲工作時(shí)間：約20小時(shí)

▲重量：約400g（主機(jī)）

▲七種 可用測(cè)頭 ： F 1.5 、 N1.5、 F 1.5R 、F N1.5 、 F3.5、FN3.5、F10

▲多種規(guī)劃測(cè)頭：FN1.5R、FN1.5-90°、F5、FN5、F15、高溫FN1.5 等

▲測(cè)頭自動(dòng)識(shí)別：自動(dòng)識(shí)別 鐵基（F）、非鐵基（N）、兩用型(FN)；

▲自動(dòng)識(shí)別基材：兩用型（FN）測(cè)頭自動(dòng)模式下可自動(dòng)識(shí)別基材，并進(jìn)行測(cè)量；

▲多種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和z多5點(diǎn)校準(zhǔn)

▲兩種 測(cè)量方式：?jiǎn)未螠y(cè)量方式（SINGLE）和連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）；

▲兩種 工作方式：直接方式(DIRECT)和 批 組方式( APPL )；

▲五種 統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、z大值（MAX）、z小值（MIN）、測(cè)量次數(shù)（ Times ）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV） ；

▲可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；

▲存儲(chǔ)：可存儲(chǔ)10000個(gè)測(cè)量值，共有100個(gè)批組可供使用；

▲數(shù)據(jù)刪除功能：可對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；

▲數(shù)據(jù)回顧功能：可對(duì)測(cè)量后的每個(gè)批組中的數(shù)據(jù)進(jìn)行回顧；

▲屏幕亮度可調(diào)：屏幕亮度5檔可調(diào)；

技術(shù)參數(shù)：