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產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心檢測分析儀器測速儀BX-G105教學(xué)橢偏儀

教學(xué)橢偏儀
產(chǎn)品簡介:

教學(xué)橢偏儀是基于消光法(或稱“零橢偏")測量原理,針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。

產(chǎn)品型號:BX-G105

更新時(shí)間:2024-05-15

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:1298

服務(wù)熱線

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產(chǎn)品介紹

關(guān)鍵詞:

橢偏儀設(shè)備   橢偏儀   激光度儀器   橢偏儀測量   便攜式橢偏儀

     

G105.jpg

產(chǎn)品用途:教學(xué)橢偏儀

   BX-G105 自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏")測量原理,針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。

儀器特點(diǎn):教學(xué)橢偏儀

1. 經(jīng)典消光法偏測量原理:儀器采用消光法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程

2. 方便安全的樣品水平放置方式:才用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放

3. 緊湊的一體化結(jié)構(gòu):集成一體化設(shè)計(jì),簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連,方便儀器使用

4. 高準(zhǔn)確性的激光光源:采用激光作為探測光波,測量波長準(zhǔn)確度高

5. 豐富實(shí)用的樣品測量功能:可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等

6. 便捷的自動(dòng)化操作:儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測量,并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作

7. 安全的用戶使用權(quán)限管理:軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限(包括:管理員、操作者等模式),便于儀器管理和使用

8. 可擴(kuò)展的儀器功能上:利用本儀器,可通過適當(dāng)擴(kuò)展,完成多項(xiàng)偏振測量實(shí)驗(yàn),如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測量實(shí)驗(yàn)、旋光等


 

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