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產(chǎn)品中心

  • BX-Y1225B500KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀
    BX-Y1225B500KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀

    產(chǎn)品型號(hào)

    BX-Y1225B

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時(shí)間

    2024-05-15

    瀏覽次數(shù)

    1525

    產(chǎn)品描述

    500KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭,對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻,自動(dòng)加壓,壓力可設(shè)定;PC軟件界面操作,多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率,電導(dǎo)率關(guān)系圖譜;提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動(dòng)實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集.
  • BX-Y1225C1000KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀
    BX-Y1225C1000KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀

    產(chǎn)品型號(hào)

    BX-Y1225C

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時(shí)間

    2024-05-15

    瀏覽次數(shù)

    966

    產(chǎn)品描述

    1000KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭,對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻,自動(dòng)加壓,壓力可設(shè)定;PC軟件界面操作,多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率,電導(dǎo)率關(guān)系圖譜;提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動(dòng)實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集.
  • BX-Y1227全自動(dòng)四探針電阻測(cè)量測(cè)試儀
    BX-Y1227全自動(dòng)四探針電阻測(cè)量測(cè)試儀

    產(chǎn)品型號(hào)

    BX-Y1227

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時(shí)間

    2024-05-15

    瀏覽次數(shù)

    1103

    產(chǎn)品描述

    全自動(dòng)四探針電阻測(cè)量測(cè)試儀晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量;選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片;新型電極設(shè)計(jì),如電鍍銅電阻測(cè)量等;半導(dǎo)體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽(yáng)能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
  • BX-Y1227A全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀
    BX-Y1227A全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀

    產(chǎn)品型號(hào)

    BX-Y1227A

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時(shí)間

    2024-05-15

    瀏覽次數(shù)

    1324

    產(chǎn)品描述

    全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀,全自動(dòng)化運(yùn)行測(cè)量系統(tǒng),PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻;可設(shè)定探針壓力值、測(cè)試點(diǎn)數(shù)、多種測(cè)量模式選擇,可顯示:方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件;報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析
  • BX-Y1228半自動(dòng)觸屏四探針測(cè)試儀
    BX-Y1228半自動(dòng)觸屏四探針測(cè)試儀

    產(chǎn)品型號(hào)

    BX-Y1228

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時(shí)間

    2024-05-15

    瀏覽次數(shù)

    1375

    產(chǎn)品描述

    半自動(dòng)觸屏四探針測(cè)試儀方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測(cè)量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式或手動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式,同一位置的重復(fù)測(cè)試或多點(diǎn)的面電阻測(cè)量,報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
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